№1181 Методы исследования структуры. Применение методов рентгеноструктурного анализа (исследование структуры кристаллов материалов электронной техники): лаб. практикум
Бублик, В. Т., Дубровина, А. Н., Зимичева, Г. М.Año:
1985
Editorial:
МИСИС
Idioma:
russian
Archivo:
PDF, 37.22 MB
IPFS:
,
russian, 1985